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半导体工程师 2023-08-26 08:42 发表于北京 电子元器件失效是指其功能完全或部分丧失、参数漂移,或间歇性地出现上述情况。电子元器件分析是对已失效元器件进行的一种事后检查。根据需要,使...
原创 芯片失效分析 半导体工程师 2023-08-18 10:03 发表于北京 芯片失效分析方法是一项关键技术,可以帮助工程师识别芯片中的故障,并找出造成故障的原因。随着芯片集成度的不断提高和工作频率...
失效分析是一项重要的技术活动,旨在研究产品、设备或系统的失效原因,以及如何预防和解决这些失效。对于从事失效分析工作的工程师和专业人士来说,拥有一些优秀的失效分析书籍是必不可少的。本...
原创 芯片失效分析 半导体工程师 2023-07-25 11:44 发表于北京 芯片失效分析是对芯片故障进行详细研究和分析的过程,旨在找出故障源,并提出相应的解决办法。芯片失效可能由于多种原因引起,如...
失效分析 赵工 半导体工程师 2023-06-16 09:49 发表于北京 北软芯片失效分析实验室 失效分析是为了查找失效原因,因为分析的某些步骤是破坏性的,不能重现,所以失效分析必须有计划有步...
原创 芯片失效分析 半导体工程师 2023-05-09 10:05 发表于北京 微光显微镜EMMI是一种高质量、高分辨率的显微镜设备,被广泛应用于生物、医学、化学等领域。在市场上,有许多不同的EMMI设备厂家...
原创 芯片失效分析 半导体工程师 2023-05-08 09:46 发表于北京 探针台简介 探针台是一种用于测试和分析电子产品的仪器,通常由探针、放大器和示波器等组成。在电子产品的研发和生产过程中,探针...
原创 芯片失效分析 半导体工程师 2023-04-30 07:49 发表于北京 成分分析Edx是一种分析分子和材料中元素含量和分布的技术。它可以帮助研究人员理解物质的组成和性质,从而提高对各种材料的加工...
半导体工程师 2023-04-21 09:15 发表于北京 引言 大多数电子元器件失效的主要原因为元器件内部电路与参考地之间存在不同电位形成短路状况,产生过电流而造成元器件损坏,即EOS损伤。元器件的...
半导体工程师 2023-04-15 07:37 发表于北京 尽管气体辅助FIB诱导沉积和传统的离子束辅助沉积(IBAD)是相似的,但有明显不同。一般来说,IBAD是与其他来源一起使用的,如蒸发、溅射、脉冲激光和...
半导体工程师 2023-04-12 09:27 发表于北京 1.SEM-FIB简介 将SEM和FIB结合成一个系统时,称为双束系统,离子束和电子束被放置在固定的位置,两束之间的角度为45-52°,以达到最佳性能。当两束共...
失效分析 赵工 半导体工程师 2023-04-12 09:27 发表于北京 工业和信息化部 电子工业标准化研究院培训中心 电标培〔2023〕 056 号 关于举办《电子产品及元器件失效分析技术与经典案例解析》与...
半导体工程师 2023-03-22 09:07 发表于北京 当整个半导体行业都在忙于去库存时,IGBT(绝缘闸极双极性晶体管)几乎成了唯一的例外。 博捷芯精密划片机13928四31716 近期,多位市场人士反映,受...
半导体工程师 2023-03-19 10:08 发表于北京 系统及原理 双束聚焦离子束系统可以简单理解为单束聚焦离子束系统与普通SEM的耦合。单束聚焦离子束系统由离子源、离子光学柱、束描画系统、信号采...