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2022-10-24 16:43 发起提问
2022-10-24 16:27 回答问题
相干光芯片通常包含无源和有源器件的集成系统，其中部分器件测试方法与单个无源和有源器件相同。对于整体集成芯片，可以使用基于任意波发生器和相干光分析仪的硅光测试系统来测试。
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相干光芯片通常包含无源和有源器件的集成系统，其中部分器件测试方法与单个无源和有源器件相同。对于整体集成芯片，可以使用基于任意波发生器和相干光分析仪的硅光测试系统来测试。