超声波扫描显微镜应用

北软失效分析赵工 半导体元器件失效分析可靠性测试  收录于合集 超声波扫描显微镜含义: 超声波扫描显微镜,英文名是:Scanning Acoustic Microscope,简称SAM,由于它的主要工作模式是C模式,...
  • 发表于 2022-10-27 14:17
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半导体工程师
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